9月16日，科技集團(tuán)聯(lián)合Chroma中茂電子(深圳)有限公司在廈門“芯火”雙創(chuàng)基地（平臺(tái)）集成電路人才實(shí)訓(xùn)基地舉辦ATE測(cè)試解決方案研討會(huì)，研討會(huì)共吸引近二十家集成電路企業(yè)工程師和廈門大學(xué)等高校在內(nèi)的在校師生參加。

  隨著芯片復(fù)雜度的提高，測(cè)試方案的多樣化，測(cè)試成本的與日俱增，Chroma推出ATE測(cè)試解決方案，提供各應(yīng)用場(chǎng)景的完整測(cè)試，以滿足客戶的各種需求。此次研討會(huì)重點(diǎn)分享了Chroma 公司在MCU、高端SOC，以及PMIC測(cè)試領(lǐng)先的技術(shù)和解決方案。講師通過實(shí)際案例分析及分享，為工程師在后續(xù)測(cè)試中能有效降低測(cè)試成本提供了最佳的技術(shù)方案。